Quantifoil® 显微机械加工多孔碳网格

适用于低能电子点源显微镜(LEEPS)

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低能电子点源显微镜要求使用带有规则图案的穿孔衬底，以便解决目标悬浮在孔上。普通的多孔碳膜上是无法看见目标的。H.-W. Fink和C. Sch鰊enterers(巴塞尔大学)使用Quantifoil多孔碳衬底测量通过DNA分子的电流。更多信息: Electrical Conduction Through DNA Molecules, H.-W. Fink and C. Sch鰊enberger, Nature 398, 407-410 (1999).

在样品和探测器之间的带有操作尖的低能电子点源显微镜（LEEPS）图示。

一串λDNA生成的一个2μm的孔的发射图像。由Dr. H.-W. Fink提供。


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Thursday March 18, 2010
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