LowZiCal™ 透射电子显微镜校准试样

测定透射电子显微镜上X射线能谱仪探测器的K系数

引言:
这些试样用来测量连接到标准透射电子显微镜的X射线能谱仪探测器的灵敏度(例如K系数)，要求试样含"低Z"的硼，碳，氮，氧，氟等元素。它们也可用来测定X射线能谱仪探测器的窗口污染程度或校准电子能量损失谱分析的数据。

LowZiCal透射电子显微镜校准试样的详细资料参见1998年7月的MSA显微镜方法和显微分析会议（亚特兰大）。要知道关于更多多的K系数计算，参见Egerton, R. F.的电子显微镜的电子能量损失谱。

在三种不同网格的样品中都存在硅元素.

LowZiCal试样实际是一“套装”，具有三种不同的3mm铜透射电子显微镜网格，每种含三种不同的无定形薄膜并附带详尽的使用说明书。

	SPI #	每套		库存
LowZiCal透射电子显微镜校准试样	02990-AB	$ ----		No

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