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Electron Flight Simulator™ 产品是一系列的工具软件，用于协助繁忙的显微镜技术人员更好推断操作结果，更好的利用X射线微量分析性能，并对最终的结果获得更多信息。使用EFS方式，您可以模仿任何样品，改变加速的电压，就能够获得X射线信号从何而来的图像。当分析薄膜、微粒、内含物和其他复杂样品时，这样的信息是非常有价值的。EFS方式就等于五个单独的膜层在一个底层上的模式。使用者设定好样品的类型和化学性质，该软件就会对此作出响应，从而告诉您里面的样品所发生的一系列情况。除了电子相互作用和所产生X射线模式，您还能够观察到X射线从样品中放射的情况。
另一新特征: Spectrum Simulator™ 对于任何样品都能生成一个合成光谱。同样，您能够观察到一个图像，该图像显示了所生成和放射的X光的强度和所有X光射入样品的深度。在这之前，对于这一信息您只能靠猜测。但现在，在您操作之前，通过样品就能够知道相关信息！
操作系统要求:
所有 Electron Flight Simulator软件均需在Windows 3.1、95、2000或XP下运行。
请从下列两种Electron Flight Simulator™产品中选择:
