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SPI-Pore™ 银过滤介质

具有导电性的高温基底材料!



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SPI银滤膜表面的
扫描电子显微图。
水平距离为60µm.

SPI-Pore™ 银膜
化学式: Ag
CAS # 7440-22-4

SPI 银膜由纯银制成,它们在极端的温度,压力和溶剂条件下,不会断裂、卷曲和溶解。更重要的是,它们非常光滑,很薄(.002" thick/51µm),而且孔分布均匀;并且它们也可重复使用(通过各向同性氧等离子体蚀刻,燃烧或通过简单的回洗)。重新使用银滤膜的最简单的方法(如果不是最好的方法)是使用SPI Plasma Prep II等离子蚀刻机。现有银滤膜的孔径从0.2到5μm。如果需要更小的孔径,应该考虑使用氧化铝滤膜。

事实上,我们能提供许多关于SPI 银滤膜的其它信息,如果你打算使用该产品用于你的研究工作,这些信息或许有价值。

尽管SPI银滤膜可用于许多方面,但是用于侵蚀性液体和高温环境下,它们独特的化学和热稳定性特别有价值。通过X射线衍射分析晶体二氧化硅以及通过其它仪器方法分析有机材料(如多芳环烃的分析(PAH)),它们是理想的介质。此外,它们还广泛应用于扫描电子显微镜(SEM)实验室,因为它们具有导电性,可降低金属镀膜的要求,还能覆盖在重要结构上,防止其被溶解。

银滤膜也可用于高温过滤,杀菌和来自液体的微生物和颗粒污染物的清除,以及腐蚀性液体和气体中污染物的清除。(注意:银膜抵制不了硝酸、硫酸和氰化物溶液的腐蚀)。SPI银滤膜的这些物理性能、保持力和流速的完美结合使其能应用于许多不同的场合。

生命科学研究人员 . . .

生命科学研究人员发现这种SPI银滤膜用于样品制备特别有效。它们除了可减少样品金属化过程外,还能:

测定游离的硅石: 应用下面的NIOSH(美国国家职业安全卫生研究所)方法:

用空气喷射粉碎的石英(SiO2)来模拟可吸入的工业粉尘中的石英,就是用这种SPI银滤膜来分析的。用于测量游离的硅石,SPI Supplies牌银滤膜能满足NIOSH方法的需求。

SEM图像能显示出滤膜表面有没有SiO2颗粒,对应的X射线衍射图可识别含SiO2的粉尘前后的成分。

具有低的X射线背景辐射,而且象其它基底一样,银的衍射线不干涉石英的衍射线。参考:* Bumstead, H. E. 1973 "Determination of Alpha-Quartz in the Respirable Portion of Airborne Particulates by X-Ray Diffraction". Amer. Ind. Hyg. Assoc. J. 34, 150-58.

* NIOSH Manual of Analytical Methods 1977. Method No.: P&CAM 259. Appendix 1, Vol. 1.
Supt. of Documents, U.S. Government Printing Office.
Washington, D.C. 20402 GPO #017-003-00267-3.

用于其它研究:


滤膜的支持:
SPI Supplies提供的所有滤膜,不管其机构如何,都必须与特制的滤膜支架一起使用。

如果需要SPI滤膜的详细技术资料,这里有!

储存和保存期限:
到目前为止,据我们所知,SPI-Pore银滤膜确实有“有效期”。然而,我们也知道,随着时间的推移,氧化物和其它无关化合物的形成取决于银膜储存的环境。在表面形成的那些银化合物实际上主要是化妆品的主要成分,它们不影响滤膜的孔结构和性能。然而,没有什么是永恒的,我们在SPI-Pore银膜片上标的有效期为5年。需要指出的是,虽然我们标的是5年期,但是至少应该还有3年的保留期。标记5年是为了确保产品的性能如同崭新的一样。

现有产品:
现有的SPI-Pore银膜过滤介质有圆形和大片形。圆形是冲切而成的,并且可随时用于标准的圆盘形过滤器(如:漏斗,滤罐等);大片形主要供给那些需要特定切割尺寸的客户,大片形更经济,并且可使用 用户自己的工具进行切割。

圆形:
大片形


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