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X-Checker™ X射线能谱仪（EDS）
性能校验装置

理想的X射线能谱仪（ EDS）性能监测、核准设备

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这种便捷、轻巧的校验装置（周长：1"或25.4 cm；高：7.5 mm）是专门为显微技术人员设计的， 尤其适用于那些没有充足时间使用常规方法去校验仪器设备性能的显微技术人员。 此种设备有X-Checker™和X-Checker Extra™两种品牌。使用“全功能”校验装置，分析人员可以对仪器的以下性能进行快速的校验：
两种品牌都具有的性能:
1) 铝和铜的光谱校准
2) 碳和铝的低能量光谱校准
3) 锰的最强峰的半峰宽分辨率测量
4) 低能量灵敏度测试（用于检查探测器窗口污染程度）
5) 高、低放大倍率的两种镍栅格（用于校准图像处理软件和放大倍率）
6) 背散射电子探测器
　
　
网格孔径规格:
40 μm x 40 μm (1,600 μm? +/- 5%
18 μm x 18 μm ( 324 μm? +/- 5%
　

X-Checker性能校验装置是一个标准的1" (即25.4 mm)金属装置，它可以应用于任何型号的扫描电子显微镜（SEM）， 不管是老型号还是新型号。对于一个使用频率很高的扫描电子显微镜/X射线能谱仪（SEM/EDS）系统，技术人员可以在很短的时间内， 在锰或镍上确定探测器的分辨率（即最大半峰宽）和能量标度，检查窗口是否玷污，检测原子序数小的原子灵敏度，校准图像分析软件。 由于X-Checker产品使用的是铝SEM支架，因此铝能够被采集到。

X-Checker Extra特有的性能

此种产品除了包含上述所有性能外，还具有如下性能：
7) 氮化硼检测光谱低能量端的性能
8) 氟源（PTFE）检测光谱低能量端的分辨率
9) 铍（Be）栅格检测高效探测器低能量端的灵敏度
X-Checker Extra Extra特有的性能
此种产品除了包含上述所有性能外，还具有如下性能：
10) 内置的法拉第杯
X-Checker系列产品广泛地销往世界各地。并且设计制造该系列产品的工程师都曾任职于全球主要X射线能谱仪（EDS）制造企业。
注意认证标准: 经常有客户询问我们，“X-Checker系列产品是不是认证产品”。客户可以从仪器和设备的附件中得到相关的产品信息。 我们的仪器、设备都经过美国国家标准和技术学会（NIST）的基准样校准，但是这些基准样我们是不作为认证产品出售的。 实际上，不管怎样这种特殊的产品仅仅是个金属器件而已（除了Mn/Cu），所以我们认为对这些产品的鉴定不会增加任何实在的价值。 如果您看重的是金属器件本身，而不是很在意相关的文书，那么我们建议您使用SPI的微量分析标准件， 特别推荐44种金属产品。

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X-Checker™ X射线能谱仪（EDS）性能校验装置 02207-AB $301.50 放入购物车Yes

X-Checker™ Extra 性能校验装置02207X-AB  400.00 放入购物车Yes
X-Checker™ Extra Extra 性能校验装置02207XX-AB  505.00 放入购物车Yes
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Tuesday March 16, 2010
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