MAGICAL^®透射电子显微镜校准试样

透射电子显微镜基本校准试样！

经加拿大的一家权威研究院几年的发展完善，这种用于各类透射电子显微镜(TEM)的独特校准试样能够应用在以下三个方面：

1) 所有放大范围内的放大倍率

2) 相机常数

3) 成像－衍射图像旋转校准

近年来，随着单晶材料的研究发展，单个校准试样可以替代多达五个普通试样。材料科学家利用材料科学技术发展和完善样品的同时，制作透射电子显微镜的生命科学家发现这些校准试样和附件的作用巨大。同样，Mag*I*cal透射电子显微镜校准试样将产生一个“认证标准”，并且到达客户手中的每个Mag*I*Cal试样都有分析证书。每个Mag*I*Cal样品销售时均附带一份分析证书，以便提供给消费者。并且，目前我们还为每个Mag*I*Cal样品附送一份追踪性证明。

图1: Mag*I*Cal校准试样示意图

样品形状
图中箭头指示的是试样上四个可能的校准标记出现的区域，注意：具有代表性的试样是由两块硅胶片用环氧树脂面对面连接而成，并用附加硅作为支持材料形成一个3mm的圆盘。在图1所示的任一侧面寻找环氧树脂线（两个箭头之间），可以在低放大倍率下找到你感兴趣的区域。

样品厚度
MAG*I*CAL试样具有离子粉碎的横截面，因此样品厚度从片孔的0（名义上的0厚度，实际是3nm）变化到整个样品的50微米。电子透明区（片孔中心附近区域）厚度以1度角增加到电子透明区边缘（厚度大于1微米）。

Mag*I*Cal校准试样描述
样品具有离子粉碎的单晶硅的横截面，单晶是由一系列Si和SiGe原子平面层构成。现在通过分子束外延(MBE)技术，这些单晶能够生长成具有电子组装水平的质量。由于硅单晶能直接参考(111)晶格间距，因此能够准确地知道试样厚度和层间距。

设计层间距以便利用试样来校准透射电子显微镜整个放大范围内的放大倍率（约从1000倍到1,000,000倍），目前没有别的试样能够覆盖到这样宽的放大范围！由于试样本身是单晶，它也能用于相机常数校准和成像－衍射图像旋转校准。

Mag*I*Cal校准试样厚度
试样厚度变化大约从片孔边缘（距离片孔较近的最薄区域的两个表面包含较多的无定形材料）的10nm到栅格边缘的50祄。对透射电子显微镜试样有用的区域取决于透射电子显微镜的加速电压，但是对于各类透射电子显微镜，试样总厚度达到1祄都是适合的。此外，各试样的“增厚”速率不同，但在片孔附近，样品材料的角度大约是10°或更小（如果是10°，距离片孔5祄处的试样大约厚1祄）。

I如果您阅读了更多的产品介绍后，仍有疑问，请告诉我们，我们将尽可能的答复您。假如使用x射线斑点，假设斑点的直径是5祄，并且斑点位于样品最薄区域，那么试样的平均厚度是2.5祄，但整个样品的厚度是从0到5祄变化。

参考使用说明书，校准试样的应用非常简单。

图 2

该产品易碎!
Mag*I*Cal TEM 校准试样非常脆弱，容易破碎。我们不希望当前或潜在的消费者轻视该产品的易碎性。当然，这并不妨碍仔细的TEM使用者使用，并且多年来，许多消费者反应在使用过程中都很顺利，没有发生意外。该产品的破损量并未超过我们的合理标准。为了减少损害，我们建议使用货运包装用膜盒进行贮藏。我们建议将Mag*I*Cal样品轻轻的放置在膜盒内的膜上，如果您仍用镊子夹持着样品，当样品接触膜时，稍有倾斜就会破裂。如果您偶然将膜弄破，为了保险期间，我们建议您立刻购买一个新的膜盒。

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MAGICal透射电子显微镜校准试样	02218-AB	$ 1200.00		Yes

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