SPI 交叉和线状光栅复制，用于TEM放大倍率校准

使用最广泛的TEM放大倍率校准样品

SPI Supplies牌格状和平行线型的清晰度检验样品，对所有TEM或STEM高放大倍率校准非常有用。我们提供两种类型的光栅复制：(a)直线间隔和(b)格状(交叉线)间隔。两种类型的间隔均为2160行每毫米(54,800行每英寸)。复制用碳阴影增强对照。两种样品都用直径为3.05mm的300目铜网格进行支撑。对于最终的TEM校准样品，考虑Mag*I*Cal™ TEM 校准测试样品。

使用该样品的一些其它考虑事项：
似乎涉及电子显微镜的大多数事情都比起先看起来更加复杂。进行TEM放大倍率校准时，必须注意滞后效应。但这并不是使用这类校准网格必须注意的唯一问题：我们要讨论一下网格“凹陷”，即当复制薄膜（或任何该类TEM样品）伸展越过网格开口时，它有“凹陷”倾向。孔径越大（如网格目数越小），这种凹陷越明显。可使用更大的网格目数（如孔径更小）进行校准来尽量减少网格凹陷。也可以通过将样品装备于小孔径的网格上来增强空间测量的精确性。这种类型的最好网格是SPI氮化硅膜窗网格，因为在这种情况下，不会有网格凹陷，最有可能实现测量的最高准确度和精确度。

描述	SPI #	单价	库存
线状光栅复制	02901-AB	$ 46.32	No
交叉光栅复制	02902-AB	60.28	Yes

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