用于SEM的HOPG测试样品的SPI锡
用于不能使用金的器具和实验室
英文版
简介:
多年来,SPI一直供应极受欢迎的
“锡碳”测试样品
,用于评估SEM图像性能。该样品以其锡粒在底层上任意排列而出名。使用的底层是一种高质量石墨。
HOPG的优势:
使用
高定向热解石墨(HOPG)
,使锡粒图案结构显著不同。锡粒不再随意排列,而是有了“光纤”或“线状”队列。有人告诉我们,运行BSE模式进行图像性能评估时,锡粒在底层上按队列排列的结构,比随意排列要方便。我们不知道为什么锡粒会以这种方式自我排列,但一定与下面的HOPG检晶仪结构有关。
HOPG上的独特锡粒结构
现有产品形式:
我们供应三种标准形式的产品:
SPI #
单价
库存
JEOL 圆柱形支架(9.5 mm x 9.5 mm 高)
02861-AB
$ 281.91
No
FEI/Cambridge/Leica/LEO/Tescan 钉型支架
02862-AB
281.91
No
1" 圆形金相学支架
02871-AB
281.91
No
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Thursday September 09, 2010
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