这些精心制作的样本被用于扫描电子显微镜（SEM）（配备钨、Lab6
或场发射枪（FEG）等发生器）的分辨率测试。与通常使用的
SPI碳金分辨率测试样本一样，将金属粒子置于碳原子环境中，从而测定出粒子间可测的最小间距。这些粒子的标称直径都不超过30nm，
是扫描电子显微镜（SEM）散光校正的理想尺寸。SPI碳锡样本还具有鉴定背向电子(BSE)侦测器图像质量的卓越品质。
警惕:
碳锡测试样本非常易碎，比碳金测试样本使用难度大。我们建议仅在那些禁用金粒子的实验室（比如某些半导体行业实验室）中使用此种测试样本。
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