|
英文版 |
SEM (扫描电子显微镜)两种JEOL型840 SEMs是SEM的核心。在中级电子操作模式下,具有高分分辨能力。连接的设备是Tracor(现在的NORAN仪器)X射线能谱仪(EDS)系统, 也可以是一种Oxford/Hexland低温传递机制和对于所有材料的低温研究平台。这种特殊的SEM是用来处理那些异乎寻常的大样本。在直径为4英寸(100mm)大小物体观测表面任何一点都是没问题的,对于8英寸(200mm) 大小的样本尽管存在一些局限性但是也可以被观测。如此大的样本观测容量对于那些不能被切割或者做破坏性检测的重要法庭样本是非常有意义也是非常有价值的。 |
|
TEM (透射电子显微镜)JEOL 100CX分析TEM是该领域的核心,能用于选区电子衍射,暗场电子显微镜和Tracor (现在的NORAN仪器) EDS 体系。全部的倾斜性能适宜于测角计来得到,也可以使用显微图来做立体的参照。辅助工具包括两个真空蒸发器( SPI Vacu Prep, Denton DV 502),用于全部离子束薄化的Gatan duo束离子减薄仪, 用于TEM中针对制备硅片第一步的"Dimpler", 一整套的三角架打磨设备,并具有用于冶金学样品薄膜化的所有能力 。 采用SPI Vacu Prep的真空镀膜机,具有完全的Pt/C复型制备能力。 |
![]() 溶液法单晶生长的Pt/C阴影 Garber, C. A.和P.H. Geil, J. Appl. Phys., 4034 (1966) |
(TM)II图像分析计算机来完成。这种所有权的系统采用CCD电视技术和Image ProPlus软件包提供了大范围的图像分析性能,该系统在SPI Supplies有出售。典型的应用包括粒子尺寸
分析,空白区域百分比,纤维长度和相位分布分析。输入可直接通过成像反射光学显微镜,或透射光学显微镜,或电子显微镜完成。扫描和透射电子图像通过显微图输入。